U Laboratoriju za pretražnu elektronsku mikroskopiju koristimo pretražni elektronski mikroskop (Scanning Electron Microscope, SEM), koji omogućuje dobivanje slika površine širokog raspona materijala. Površina koju želimo ispitati ili mikroobujam koji želimo analizirati ozračen je dobro fokusiranim elektronskim snopom u svrhu stvaranja slike ili za elementnu analizu uzorka. Rezultati međudjelovanja elektronskog snopa s uzorkom mogu biti sekundarni elektroni (emitirani iz uzorka), povratno raspršeni elektroni (iz elektronskog snopa) i karakteristično rendgenskog zračenje emitirano s uzorka. Signali se mogu koristiti za ispitivanje različitih karakteristika uzoraka, kao što su topografija površine, kristalografija, kemijski sastav itd. 

Doc. dr. sc. Ivna Kavre Piltaver rođena je u Rijeci, gdje je završila osnovnu i srednju školu na talijanskom jeziku. Nakon završenog studija fizike i matematike na Odjelu za fiziku Sveučilišta u Rijeci upisala je doktorski studij na Fakultetu za matematiku i fiziku Sveučilišta u Ljubljani, gdje je doktorirala 2014. godine. Tijekom i nakon doktorskog studija usavršavala se i sudjelovala na raznim seminarima i konferencijama diljem Europe. Trenutno je zaposlena na Sveučilištu u Rijeci na Fakultetu za fiziku i Centru za mikro- i nanoznanosti i tehnologije. Znanstvena istraživanja obavlja u Centru za mikro- i nanoznanosti i tehnologije pretežno u Laboratoriju za pretražnu elektronsku mikroskopiju. Uz znanstveni rad sudjeluje u sveučilišnoj nastavi i u projektima popularizacije fizike.