U Laboratoriju za fiziku površina koristimo se metodama baziranim na interakciji materijala s rendgenskim ili ionskim zračenjem za ispitivanje elementnog i kemijskog sastava koristeći spektrometar fotoelektrona rendgenskim zrakama (XPS) i maseni spektrometar sekundarnih iona (SIMS). SIMS tehnikom analizirat ćemo površine eurokovanica. U Laboratoriju za tanke filmove koristimo uređaj za depoziciju atomskih slojeva (Atomic Layer Deposition, ALD) za sinteze tankih filmova metalnih oksida (poput titanovog oksida i cinkovog oksida) i nitrida na različitim podlogama kontrolom debljine filmova na nanometarskoj skali.

Robert Peter rođen je u Rijeci 1984. godine, gdje je završio osnovnu školu i Srednju školu za elektrotehniku i računarstvo. Diplomirao je 2008. godine na Filozofskom fakultetu Sveučilišta u Rijeci, čime je stekao zvanje profesor matematike i fizike. Godine 2015. doktorirao je eksperimentalnu fiziku kondenzirane materije na Prirodoslovno-matematičkom fakultetu Sveučilišta u Zagrebu. Docent je na Odjelu za fiziku i Centru za mikro- i nanoznanosti i tehnologije Sveučilišta u Rijeci. Područja su njegova znanstvenog rada površinska fizika poluvodičkih materijala i metala, primjena sinkrotronskog zračenja u karakterizaciji materijala, narastanje tankih poluvodičkih filmova i njihova primjena u nanotehnologiji. Suautor je 30 znanstvenih radova.