Krenite u mikroskopsku avanturu te istra\u017eite mikro- i nanosvijet pretra\u017enim elektronskim mikroskopom! U Laboratoriju za pretra\u017enu elektronsku mikroskopiju koristimo pretra\u017eni elektronski mikroskop (engl. Scanning Electron Microscope, SEM), koji omogu\u0107uje dobivanje slika povr\u0161ine \u0161irokog raspona materijala. Povr\u0161ina koju \u017eelimo ispitati ili mikroobujam koji \u017eelimo analizirati ozra\u010den je dobro fokusiranim elektronskim snopom u svrhu stvaranja slike ili za elementnu analizu uzorka. Rezultati me\u0111udjelovanja elektronskog snopa s uzorkom mogu biti: sekundarni elektroni (emitirani iz uzorka), povratno raspr\u0161eni elektroni (iz elektronskog snopa) i karakteristi\u010dno rendgensko zra\u010denje emitirano s uzorka. Signali se mogu koristiti za ispitivanje razli\u010ditih karakteristika uzoraka, kao \u0161to su topografija povr\u0161ine, kristalografija i kemijski sastav. Kroz interaktivnu demonstraciju u\u010denici \u0107e nau\u010diti osnovne principe rada SEM-a, uklju\u010duju\u0107i kako se uzorci pripremaju i analiziraju. Upoznat \u0107e se i s primjenom ovog mikroskopa u analizi tankih filmova i biolo\u0161kih materijala.
<\/p>\n\n\n\n
Ivana Jelovica Badovinac diplomirala je matematiku i fiziku na Filozofskom fakultetu Sveu\u010dili\u0161ta u Rijeci. Doktorirala je fiziku na Prirodoslovno-matemati\u010dkom fakultetu u Zagrebu 2011. godine. Radi kao izvanredna profesorica na Fakultetu za fiziku i u Centru za mikro- i nanoznanosti i tehnologije. Uz znanstveno-nastavni rad redovito se uklju\u010duje i u popularizacijske aktivnosti. Posebno voli pretra\u017enu elektronsku mikroskopiju. Trenutno obna\u0161a du\u017enost prodekanice Fakulteta.\u00a0
<\/p>\n\n\n\n
Ivna Kavre Piltaver ro\u0111ena je u Rijeci, gdje je zavr\u0161ila osnovnu i srednju \u0161kolu na talijanskom jeziku. Nakon zavr\u0161enog studija fizike i matematike na Odjelu za fiziku, Sveu\u010dili\u0161ta u Rijeci upisala je doktorski studij na Fakultetu za matematiku i fiziku Sveu\u010dili\u0161ta u Ljubljani, gdje je doktorirala 2014. godine. Tijekom i nakon doktorskog studija usavr\u0161avala se i sudjelovala na raznim seminarima i konferencijama diljem Europe. Trenutno je izvanredna profesorica Sveu\u010dili\u0161ta u Rijeci na Fakultetu za fiziku i Centru za mikro- i nanoznanost i tehnologije. Znanstvena istra\u017eivanja obavlja u Centru za mikro- i nanoznanosti i tehnologije prete\u017eno u Laboratoriju za pretra\u017enu elektronsku mikroskopiju. Uz znanstveni rad sudjeluje u sveu\u010dili\u0161noj nastavi i na podru\u010dju popularizacije fizike.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
Krenite u mikroskopsku avanturu te istra\u017eite mikro- i nanosvijet pretra\u017enim elektronskim mikroskopom! U Laboratoriju za pretra\u017enu elektronsku mikroskopiju koristimo pretra\u017eni elektronski mikroskop (engl. Scanning Electron Microscope, SEM), koji omogu\u0107uje dobivanje slika povr\u0161ine \u0161irokog raspona materijala. Povr\u0161ina koju \u017eelimo ispitati ili mikroobujam koji \u017eelimo analizirati ozra\u010den je dobro fokusiranim elektronskim snopom u svrhu stvaranja slike ili za elementnu analizu uzorka. Rezultati me\u0111udjelovanja elektronskog snopa s uzorkom mogu biti: sekundarni elektroni (emitirani iz uzorka), povratno raspr\u0161eni elektroni (iz elektronskog snopa) i karakteristi\u010dno rendgensko zra\u010denje emitirano s uzorka. Signali se mogu koristiti za ispitivanje razli\u010ditih karakteristika uzoraka, kao \u0161to su topografija povr\u0161ine, kristalografija<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_monsterinsights_skip_tracking":false,"_monsterinsights_sitenote_active":false,"_monsterinsights_sitenote_note":"","_monsterinsights_sitenote_category":0,"_themeisle_gutenberg_block_has_review":false,"footnotes":""},"categories":[1],"tags":[],"yoast_head":"\n